<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<rss xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" version="2.0">
  <channel>
    <title>DSpace Collection:</title>
    <link>http://ea.donntu.ru/handle/123456789/975</link>
    <description />
    <pubDate>Mon, 20 Apr 2026 18:55:10 GMT</pubDate>
    <dc:date>2026-04-20T18:55:10Z</dc:date>
    <item>
      <title>Комплексная оценка компактного тестирования цифровых схем на основе минимальных полиномов</title>
      <link>http://ea.donntu.ru/handle/123456789/33877</link>
      <description>Title: Комплексная оценка компактного тестирования цифровых схем на основе минимальных полиномов
Authors: Дяченко, Олег Николаевич; Дяченко, Валерий Олегович
Abstract: Выполнен анализ эффективности компактного тестирования цифровых схем при предположении, что генератор тестовых последовательностей и анализаторы тестовых реакций - РСЛОС с минимальными порождающими полиномами. На основе такого анализа предложена комплексная оценка для различных вариантов сочетания минимальных порождающих полиномов для исчерпывающего тестирования комбинационных схем.</description>
      <pubDate>Mon, 21 May 2018 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://ea.donntu.ru/handle/123456789/33877</guid>
      <dc:date>2018-05-21T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
    <item>
      <title>Компактное тестирование на основе минимальных полиномов в цифровых схемах с самотестированием</title>
      <link>http://ea.donntu.ru/handle/123456789/33472</link>
      <description>Title: Компактное тестирование на основе минимальных полиномов в цифровых схемах с самотестированием
Authors: Дяченко, Валерий Олегович; Дяченко, Олег Николаевич
Abstract: Дяченко В.О., Дяченко О.Н. Компактное тестирование на основе минимальных полиномов в цифровых схемах с  самотестированием. Выполнен анализ эффективности компактного тестирования комбинационных схем, учитывающего характер распределения ошибок в тестовой реакции и структуру генератора тестовых последовательностей и анализаторов тестовых реакций, построенных на основе минимальных полиномов. Предложены рекомендации по выбору порождающих полиномов регистров сдвига с линейными обратными связями для различных вариантов компактного тестирования</description>
      <pubDate>Mon, 20 Nov 2017 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://ea.donntu.ru/handle/123456789/33472</guid>
      <dc:date>2017-11-20T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
    <item>
      <title>Комплексная оценка компактного тестирования цифровых схем на основе минимальных полиномов</title>
      <link>http://ea.donntu.ru/handle/123456789/33465</link>
      <description>Title: Комплексная оценка компактного тестирования цифровых схем на основе минимальных полиномов
Authors: Дяченко, Валерий Олегович; Дяченко, Олег Николаевич
Abstract: Дяченко В.О., Дяченко О.Н. Комплексная оценка компактного тестирования цифровых схем на основе минимальных полиномов. Выполнен анализ эффективности компактного тестирования цифровых схем при предположении, что генератор тестовых последовательностей и анализаторы тестовых реакций - РСЛОС с минимальными порождающими полиномами. На основе такого анализа предложена комплексная оценка для различных вариантов сочетания минимальных порождающих полиномов для исчерпывающего тестирования комбинационных схем</description>
      <pubDate>Mon, 01 Jan 2018 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://ea.donntu.ru/handle/123456789/33465</guid>
      <dc:date>2018-01-01T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
    <item>
      <title>Применение методов помехоустойчивого кодирования для компактного  тестирования цифровых схем</title>
      <link>http://ea.donntu.ru/handle/123456789/33464</link>
      <description>Title: Применение методов помехоустойчивого кодирования для компактного  тестирования цифровых схем
Authors: Дяченко, Олег Николаевич; Зинченко, Юрий Евгеньевич; Дяченко, Валерий Олегович
Abstract: Дяченко О.Н., Зинченко Ю.Е., Дяченко В.О. Применение методов помехоустойчивого кодирования для компактного  тестирования цифровых схем. Выполнен анализ эффективности компактного тестирования комбинационных схем, учитывающего структуру генератора тестовых последовательностей, анализатора тестовых реакций, построенных на основе методов циклического кодирования,  и характер распределения ошибок в тестовой реакции. Предложен метод расчета сигнатур, отличающийся от известного, в выборе степенного обозначения тестовых наборов вместо двоичного. Показано, что главное достоинство аналитического вычисления сигнатур являются не столько значения компактных оценок, а вывод о сигнатурной тестируемости комбинационных схем. Этот вывод распространяется на многовходовые  анализаторы тестовых реакций; для структур с посимвольным перемежением; для порождающих полиномов, как в конфигурации Галуа, так и в конфигурации Фибоначчи. Предложены рекомендации по выбору порождающих полиномов регистров сдвига с линейными обратными связями для различных вариантов компактного тестирования</description>
      <pubDate>Sun, 01 Jan 2017 00:00:00 GMT</pubDate>
      <guid isPermaLink="false">http://ea.donntu.ru/handle/123456789/33464</guid>
      <dc:date>2017-01-01T00:00:00Z</dc:date>
    </item>
  </channel>
</rss>

