|
eaDonNTU, Donetsk >
Научные труды ДонНТУ >
Серія: Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка >
Випуск 11(164) >
Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
http://ea.donntu.ru/handle/123456789/2840
|
| Название: | Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне |
| Другие названия: | Parallel Test Generation for MOS-structures on switch level
Паралельна генерація тестів для МОП-структур на переключному рівні |
| Авторы: | Андрюхин, Александр Иванович
Andruckin, A.I.
Андрюхин, О.І. |
| Ключевые слова: | цифровое моделирование
переключательный уровень
параллельная генерация тестов
parallel test generation
switch-level
digital simulation
паралельна генерація тестів
цифрове моделювання
переключний рівень |
| Дата публикации: | 2010 |
| Издатель: | ДВНЗ «ДонНТУ» |
| Библиографическое описание: | Андрюхин, А.И. Параллельная генерация тестов для МОП-структур на переключательном уровне / А.И. Андрюхин//Наукові праці ДонНТУ. Серія «Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка». – 2010. – Вип. 11(164). – С. 75-79 |
| Серия/номер: | Інформатика, кібернетика та обчислювальна техніка;11 |
| Аннотация: | Рассматривается параллельный метод генерации тестов на переключательном уровне. Представлены экспериментальные результаты эффективности предложенного метода для схем списка Iscas-89 |
| Описание: | А method for pseudo-random test generation on switch level is described.
Experimental results on ISCAS-89 circuits are presented to demonstrate the effectiveness of
the proposed method |
| URI: | http://ea.donntu.edu.ua/handle/123456789/2840 |
| Располагается в коллекциях: | Випуск 11(164)
Статті співробітників кафедри ПМІ
|
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.
|
